SemiProbe

SemiProbe est un fournisseur de solutions de tests pour la microélectronique, les applications solaires, l'optoélectronique, les MEMS, la biotechnologie, la chimie, le microfluidique et la nanotechnologie, photovoltaïque, etc…

SemiProbe relève les défis les plus difficiles en matière de tests et probing en offrant des solutions de probing spécifiques et customisées par application . Les technologies employées utilisent des designs innovateurs qui sont plus économiques à construire, à upgrader et à entretenir. SemiProbe s’ efforce de fournir à l'industrie un accès aux dernières technologies de test de haute qualité pour optimiser les coûts. SemiProbe met à votre disposition une famille de probers et d'accessoires à prix très compétitif pour répondre à l’essentiel des applications de la R & D à la production.

L’approche modulaire permet des upgrades ou des modifications rapides pour répondre à vos besoins les plus innovants d'aujourd'hui et de demain !

Quel est l'avantage pour vous, l’ utilisateur?
Très simplement : vous offrir, dans un premier temps, la possibilité d'acheter exactement et uniquement ce dont vous avez besoin et selon votre budget. Et pour répondre à vos futurs besoins vous pourrez upgrader votre équipement en ajoutant uniquement les éléments requis.

PROBERS ET ACCESSOIRES

Top et Back side Prober: Prober offrant la possibilité de positionner des pointes sur les 2 faces.
Utilisé pour 3 applications spécifiques:
- intégré dans un banc de microscopie à émission
- pour le test d'éléments discrets comme : Thyristors, Diodes, Transistors de puissance, IGBT...qui requièrent un contact sur les deux faces lors du test en production
- nouveaux designs ayant des zones actives sur les deux faces comme les TSV(Thru Silicon Via)..; Demande d'informations

PSL Serie (Probe system for life): Plateforme de test universelle totalement upgradable, permettant de configurer son prober en fonction de ses besoins et de le faire évoluer selon ses applications .; Demande d'informations

Prober sous vide Cryogénique: Applications cryogéniques LN2 ou LHe
Fonctionnement sous vide à 10-9 Torr
Existe en version haute température ( >1000°C); Demande d'informations

LA Serie (Lab Assistant )

Station de test sous pointes spécialement designée pour la R&D et les Universités:

Robuste
Compacte
Ergonomique
Economique
Existe en 150 & 200 mm
Existe en version DC & RF

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PS4L-MSS: Prober pour application utilisant un champ magnétique , permettant le contrôle de la position du DUT, des sondes, du microscope, et de la source magnétique.
Idéal pour le test de MRAM, FeRAM, les applications effet Hall , Magneto-Optic Keer Effect...; Demande d'informations

SA Serie (Prober semi-automatique)

Prober semi-automatique 4, 6, 8, et 12"

Upgradable 450 mm
Upgradable Micro-chambre
Contrôle local ou via PC ou via l'instrumentation utilisée

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Visualisation: Toute une gamme de microscopes , lasers , caméras, objectifs ...permettant d'offrir la meilleure solution en fonction de l'application .
Un large choix parmi : SEIWA, MOTIC, OPTEM, MITUTOYO,NEW WAVE.....; Demande d'informations

Bras porte pointes

Bras DC ajustable en hauteur
Bras DC Multi-positions
Bras Coaxial et Triaxial
Bras RF/Hyper planarisable

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Logiciel

De navigation
Point'n Shoot
Wafer Mapping
Touch Screen
Reconnaissance de formes

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Micropositionneur

Compact pour applications DC
Universel pour DC et RF/Hyper
SubMicron de précision , haute performance pour applications DC et RF/Hyper, configurable en position Horizontale ou Verticale (pratique pour les applications Opto )

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Applications opto: SemiProbe propose des méthodes innovantes pour les tests des composants optoélectroniques aussi bien en manuel qu'en automatique permettant un test Horizontal ( EELD ) et Vertical (VCSEL,LED ) sur le même système.; Demande d'informations

Solutions Thermiques

Chucks Thermiques 50,100,200 et 300 mm
Gamme de température : -120°C à +310°C ( en différents modèles )
Plateformes Thermiques : 50x50 ou 64x64 ou 100x100 mm

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Inspection de puces et de wafers: SemiProbe propose un système d'inspection au niveau macroscopique (0.5 µm)manuel , semi-automatique ou entièrement automatisé .
Les applications sont multiples allant du simple contrôle de contacts de sondes , de marquage de puces, de l'observation physique des défauts, jusqu'à l'auto-alignement , le wafer mapping, l'inspection Backside ou l'inspection TSV(Trough Silicon Via), critique dans le process de circuits intégrés 3D.; Demande d'informations

Prober sous vide automatique: Prober automatique sous vide 10-4 Torr , multi-chargements avec possibilité d'avoir jusqu'à 5 accès de chargement différents et des wafers jusqu'à 300 mm.; Demande d'informations

Applications Microfluidiques: SemiProbe propose des solutions adaptées aux tests de systèmes microfluidiques
comme des supports spécifiques, des positionneurs supportant des injecteurs ...; Demande d'informations

Micropositionneur Sub Micron

Haute résolution : 0.5µm
Drift < 2µm/heure
Commandes déportées avec liaisons microfluidiques pour réduire les vibrations

Demande d'informations

Test automatique: SemiProbe propose des systèmes de test automatique incluant l'auto-alignement, le chargement de waferspar cassettes et ce jusqu'à 300 mm.; Demande d'informations

Test en milieu isolé

SemiProbe propose pour tous ses probers des solutions pour :

Applications basse température
Blindage EMI
Isolement de la lumière extérieure
Blindage pour les mesures très bas niveau
Test sous vide

Demande d'informations

Dark box: Dark box avec ouverture à volet déroulant pour gain de place et facilité d'utilisation.
Support pour moniteur et clavier intégré.; Demande d'informations

RF/HYPER

DC-220 GHz
2 accès ou multi-accès
Paramètres S , Load Pull, Bruit ...
Manuel , semi-automatique et automatique
Jusqu'à 300 mm , upgradable 450 mm

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: PROBER FOR LIFE