QFI conçoit et fabrique des instruments d'optique pour la microscopie semi-conducteurs. Le personnel de QFI a plus de 100 ans d'expérience collective dans la recherche, la conception et l'application de la technologie de pointe dans le domaine des détecteurs infrarouge, des dispositifs de vision nocturne thermique, de la microscopie multi-spectrale, de la conception du process et du test des semi-conducteurs.
QFI maintient son orientation scientifique , en améliorant continuellement produits et services et en développant de nouvelles technologies.
QFI met à la disposition des laboratoires d’Analyse de Défaillances une palette d’outils leur permettant de configurer leurs moyens de tests en fonction de leurs besoins
spécifiques.
En outre, les instruments QFI sont conçus pour être évolutifs et s’adapter facilement aux nouvelles technologies et aux nouvelles exigences des tests industriels .
Nous vous offrons:
- Des microscopes infrarouge pour deux applications distinctes: (1) dans le domaine RF & Hyper pour mesurer les températures de jonction en temps réel (cartographie thermique), et (2) en analyse de défaillance pour détecter les court-circuits (Hot spot detection). En général, l'instrument affiche le rayonnement infrarouge thermique en fonction de la température et des puissances. Affichage de la température à partir des émissions IR et après calcul. Le microscope IR a une résolution de 2,5 microns et une sensibilité de 10 à 100 millikelvin. La précision est de l’ordre d’ 1 degré Celsius. En option : mesures de température Raman pour une meilleure résolution et précision.
- Des microscopes à émission avec la capacité unique de monter jusqu'à quatre détecteurs différents sur le même instrument pour la détection des émissions de longueurs d'onde de 400 nm à 4 microns. Ces instruments peuvent être configurés pour: (1) détection de photo émission face avant ou arrière , (2) détection d'émission thermique face avant ou arrière (3)pour les techniques de type XIVA :injection d’un signal laser ou (4) la totalité de ce qui précède sur le même instrument.
- Pour l’ANADEF nous offrons un microscope à balayage laser pour une meilleure résolution, et pour les analyses utilisant la technique types XIVA (avec injection d’un signal laser dans l'axe optique pour l’excitation du circuit sous test en plus du monitoring du signal incident).
Demandes d'informations:
qfi-info@f-i-science.com
